超高分辨荧光显微镜单分子追踪系统

超高分辨荧光显微镜单分子追踪系统（NiKon，N-STORM）

主要参数：成像分辨率：横向（XY）分辨率20nm，纵向（Z）分辨率50nm；全分辨率：≥2048×2048；全分辨率下最大帧频≥100fps

主要应用范围：主要用于海洋腐蚀防护研究工作，针对海洋生物污损研究具有重要的作用，超高分辨率成像技术能观察细胞内部细微的结构，可以在单分子水平上进行观察研究

测试地点：海琴5号 B109

联系方式：郭老师 0756-3668965

预约网站：https://sharing.sysu.edu.cn/