透射电子显微镜

透射电子显微镜 （Talos F200X G2）

主要参数：TEM信息分辨率≤0.12nm@200kV，点分辨率≤0.25nm@200kV；80、200kV可调，切换通过软件控制完成；高压稳定性≤1ppm/10min；场发射电子枪；TEM放大倍数：25~1050000倍；STEM放大倍数：330~2300000倍；另配有Bruker PI95原位纳米力学样品杆和原位加热/加偏压样品杆

主要应用范围：对微纳尺度材料进行快速、精确的形貌观察和微区结构的表征，获得非晶材料的质厚衬度像，晶体材料的衍射衬度像，和单晶薄膜的相位衬度像（原子像）；选择特定设计的极靴和样品台，可进行原位动态实验；结合能谱仪，可对样品进行微区元素含量及分布分析

测试地点：海琴5号 B107

联系方式：钟老师 0756-3668965

预约网站：https://sharing.sysu.edu.cn/